次世代MRAMにも対応のフラッシュメモリーサイクリングテスター 

次世代MRAMにも対応のフラッシュメモリーサイクリングテスター 


次世代MRAMにも対応した高速テスターバーイン装置。新型ハードウェハPGとの64ビットデータチャンネルにより、16ビット品で最大768個のデバイスを同時にテスト可能。
(当社比3倍以上の高速試験)


用途・実績例
《対応デバイス》
○フラッシュメモリー
○エンベデットデバイス
○FeRAM
○MRAM

《対応アプリケーション》
○信頼性試験(データ書換え試験)
○スクリーニング試験
○データプログラミング用途


価格:お問い合わせください
型番:NTS5700
納期:お問い合わせください


■製品サイト:http://www.welljp.co.jp/


株式会社ウェル
実装ソリューション事業部
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番25号
サンウッド品川天王洲タワー2階
Tel:03(5715)3501
Fax:03(5715)3502
URL :http://www.welljp.co.jp/
E-mail:info@welljp.co.jp

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所在地

東京都江東区