HF帯RFID用パワー可変アッテネータ「TAT150」

HF帯RFID用パワー可変アッテネータ「TAT150」

電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信性能検査が可能

<特長>
TAT150のボリュームで電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信検査ができます。
T8200PROとの組み合わせで使用した場合、共振周波数測定に影響せず通信機能のID読取のみ設定された出力で検査対象からの応答があるか検査を行い、ICカード・タグ・NFCなどの動作レベルを確認できます。

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https://bit.ly/3tQne0f
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株式会社テストラム事業所概要詳細
所在地

東京都千代田区